研究级明暗场金相显微镜MHML63M

MHML63M研究级明暗场正置金相显微镜，采用模块化设计，集成多种观察模式，适配材料学研究、工业检测、半导体/PCB检测、精密器件分析等场景，可实现从显微观察到数码成像、报告生成的完整工作流，主打“智能、精准、简洁、高效”的产品特性。

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产品简介产品参数应用领域

产品简介

MHML63M研究级明暗场正置金相显微镜

核心观察功能

多观察模式集成：支持明场（BF）、暗场（DF）、偏振光（PO）、DIC微分干涉四种观察方式，可根据检测需求灵活选择。

偏振检测系统：包含起偏镜插板与360°旋转式检偏镜插板；可消除半导体、PCB检测中的杂光，提升细节清晰度；无需移动样本，即可观察不同偏振角度下的样品状态。

DIC微分干涉成像：可将明场下无法识别的细微高低差，转化为高对比度明暗差，以立体浮雕形式呈现，适用于LCD导电粒子、精密磁盘表面划痕等超微结构检测。

智能与数字化特性

编码物镜软硬件联动编码转换器与明慧图像分析软件深度集成，软件界面可实时显示当前物镜放大倍率；切换物镜时自动同步校准软件参数，避免因忘记切换软件倍率导致的测量误差。

智能光强管理与亮度记忆支持预设不同物镜对应的照明亮度，切换物镜时自动调节光强至匹配值；可记忆每档物镜的亮度参数，减少长时间观测的视觉疲劳，提升工作效率。

摄像拓展能力

标配0.5X可调焦C型摄像接筒

选配1X、0.65X摄像接口

适配500万、600万、900万、1200万、2000万等多档位显微相机

可选配高精度测微尺（格值0.01mm），支持精准测量校准

MHML63M研究级金相显微镜应用场景广泛，覆盖工业检测、科研教学、材料研发、质量管控等核心领域：

金属材料行业：开展金相组织评级、热处理工艺验证、焊接缺陷与失效分析、表面镀层检测，服务冶金、汽配等领域品质管控。

电子半导体领域：适配PCB线路与镀层检测、晶圆封装缺陷筛查、LCD导电粒子及精密磁盘微划痕观测。

高端制造与新能源：覆盖航空、汽车精密零部件形貌检测，以及光伏硅片、锂电极片、新型材料的研发表征。

科研与检测服务：支撑高校材料学科教学实验，以及第三方机构的材质鉴定、工艺仲裁与失效分析。

产品参数

型号	MHML63M
	明场/暗场/偏振光/编码/光强记忆
光学系统	CF60无限远校正光学系统
目镜	高眼点大视野平场目镜SWH10X23mm（视度可调）
物镜	CFI60无限远全复校明暗场正物镜EPITUPLanFluor5XNA0.15,WD18
	CFI60无限远全复校明暗场正物镜EPITUPLanFluor10XNA0.3,WD14.5
	CFI60无限远全复校明暗场正物镜EPITUPLanFluor20XNA0.5,WD5mm
	CFI60无限远全复校明暗场正物镜EPITUPLanFluor50XNA0.75,WD4mm
观察筒	倒像，无限远铰链三目观察筒，瞳距调节范围：50mm～76mm；两档式分光比：100：0，50：50
转换器	5孔编码型明暗场物镜转换器
机架	透反两用机架，低手位粗微同轴调焦机构，粗调行程27mm，微调精度0.001mm。带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置。带平台位置上下调节机构，最大样品高度38mm
载物台	右手位4英寸机械平台，移动行程：105mmX102mm机械平台，X、Y方向同轴调节；可带透射系统挡光板，带玻璃载物台板
上照明系统	反射灯室，单颗大功率10WLED，暖色，柯拉照明，带视场光阑与孔径光阑，中心可调
下照明系统	自适应宽电压，透射灯室，单颗大功率10WLED，暖色
聚光镜	透射用消色差聚光镜（N.A0.9），带可变孔径光阑，中心可调
偏光装置	起偏镜插板，360°旋转式检偏镜插板
摄像附件	0.5X摄像接筒.C型接口.可调焦
选配件	目镜	高眼点大视野平场目镜SWH10X25mm，视度可调，可带测微尺
	干涉片	DIC微分干涉片
	观察头	正像，无限远铰链三目观察筒，瞳距调节范围：50mm～76mm；两档式分光比：100：0，50：50
	物镜	CFI60无限远全复校明暗场正物镜EPITUPLanFluor100XNA0.80,WD3mm
		CFI60无限远全复校明暗场正物镜EPITUPLanFluor50XNA0.60,WD11mm
	载物台	3X2双层机械移动平台，低手位X、Y方向同轴调节；平台面积240X175mm，工作台面：135X125mm，玻璃台面：101X101mm，移动范围：75mmX50mm可配反射用金属载物台板，透反两用玻璃载物台板
	相机	500万、600万、900万、1200万、2000万等相机
	标尺	高精度测微尺，格值0.01mm
	接口	1X，0.65X